CWDM无源器件测试解决方案

基本概述

CWDM粗波分复用(Coarse Wavelength Division Multiplexing): 泛指工作在从1270nm到1610nm的范围内,其信道间距为20nm,共18个波长CWDM无源器件。

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CWDM器件制造工艺流程


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方案描述

CWDM光无源器件生产领域中,昂贵的测试仪器占了测试成本的很大一部分,其中OSA,宽带光源则是仪器中最为昂贵的部分,充分利用宽带光源,OSA,多工位共享仪表资源是有效降低测量成本的主要方法。


CWDM反射调光


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CWDM透射调光


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CWDM高低温测试,高温老化测试,成品测试框图:

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CWDM调光调试—PDL测量(可选)

偏振相关损耗PDL --光源、偏振控制器、OPM(必须对偏振不敏感,使用积分球)


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方案优势

自动化测试系统采用计算机/服务器,分时共享模式, 通过USB或网线通信、软件控制方式,把多台计算机和仪器有机结合起来,实现多个工位控制共享单台宽带光源和OSA仪器,从而突破了传统台式仪器的局限性,达到了共享昂贵资源,降低测试成本的目的。

基本测试框图如下(仪1X4 CWDM模块为例):

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SLED宽带光源作为测试光源

优点:光谱范围宽,光谱功率密度高,测试效率高,成本适中,是目前理想的宽带测试光源方案之一。

SLED宽带光源可以覆盖整个CWDM频谱范围( 组合输出可覆盖1270~1620 nm ),在这个范围内光功率密度比LED光源约大3个数量级因此CWDM的隔离度指标可测到50dB以上

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