端面缺陷的检测

使用高放大倍数的光学显微镜，Dimension拥有一些列端面缺陷检测方案，检测方式分为两种：通过人工观察器件端面的图像，可以观察端面的质量、缺陷、划痕或其他问题。这是最简单、直观的方法，但有一定局限性，受操作人员的责任心及经验影响。通过智能化分析，使用自动化算法进行图像处理和分析，能够高效地检测器件端面划痕或缺陷等问题。可以提供更准确的检测结果，利于分析管控质量，不受人员操作的因素影响，并节省人工检查的时间和成本。

应用场景的角度分为两种：生产制造过程中，适合应用台式，稳固可靠便；应用现场，适合便携式，方便携带，操作简便，针对各种端口类型有丰富的，接口类型。

三维形貌检测

维度科技在光纤端面3D检测领域，是开创者，也是引领者，已形成系列化产品。数年来专注研发干涉仪光学系统及结构设计，优秀的光学系统能够提供图像清晰度，使3D图像还原更加真实准确，为数据计算的稳定性、准确性提供了可靠性，结构设计出全新、强健的防震系统，抗震性能提高，确保数据的稳定性。端面三维形貌检测解决方案包括：MT Pro单多芯一体干涉仪、FUTURE自动光纤端面5D干涉仪、SANA2、BINNA2自动光纤端面干涉仪、SANA MINI光纤端面干涉仪系列产品，JumperRun光纤连接器一站式测试仪,能满足各种类型的连接器检测，如SC, FC, ST, LC, MU, E2000™, MTP®/MPO, MT16/32, MT-RJ, MT, 裸插芯、裸光纤等。

主要优势：
干涉仪系列化产品行业领先
支持行业内各种连接器检测
数据准确稳定性高
全自动应用简便
支持数据库传输

非接触式清洁系统：Offsoon Pro光纤端面清洗机，配置高精密过滤系统，采用的是液体+气体的清洁原理，快速溶解光纤端面上的污渍，喷射的无尘气体将清洁液与油污渍一起吹走，整个清洁过程只需2秒，单次清洁效率高达98%以上。

主要优势：

• 单次清洁效率高达98%
• 非接触式，保护光端面
• 支持单、多芯光器件端面清洁
• 可应用于自动化清洁和检测系统

插回损测试是光纤通信领域中的一个重要测试项目，主要用于评估光纤连接器、适配器、光纤跳线等设备在连接时产生的光损。随着光纤通信技术的发展和广泛应用， 对光纤连接的质量要求越来越高，插回损的测试显然必不可少。

主要优势：

适应全场景下的光无源器件插回损检测；
测试速度快、测量范围广、测试精度高；
满足单芯、双联、多芯光纤和单、多模测试需求；
基于FreeDesign平台的模块化设计，是目前业界系列最全的插回损测试解决方案，
并持续迭代新的衍生产品如可靠性测试插回损测试系统、多芯极性插回损测试仪等。

光功率检测和光损耗测试：使用高速光功率计或衰减器检测器件端面的输出功率和衰减情况。通过与理论值或标准值进行比较，可以评估端面的质量，判断是否需要清洁。高速光功率计系列模块在原理设计和器件选择上即确保了高速功率输出又满足高速下大动态范围的需求。

主要优势

高速模式下支持光功率探测范围：+10dBm~-70dBm
支持850nm~1650nm波长范围内任意波长设置
单模块可提供1、2或者4路光功率探测统
连续功率刷新频率最高可达10KHz（全量程）
高速模式下支持自动换档采集测量
每通道可以存储高达1000万个功率值
支持多种触发采集模式

POA多模单模可编程光衰减器，可以同时提供多通道高精度的光路衰减，可灵活编程设定自动或者随机衰减值，具有衰减精度高、波长范围广、衰减范围大、转换速度快、重复性和线性度好等出色的性能。

主要特性

多模环通量控制，多种光源检验标定
大衰减范围（MM>55dB,SM>40dB）
更低的插入损耗，衰减速率提升200%
超高的衰减准确性和重复性
内置功率监控，三种控制模式

应用

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  1.25G~40G光模块TOSA/ROSA制造测试