无源器件测试解决方案

基本概述

光无源器件主要种类:光纤、光连接器、光滤波器、CWDM/DWDM、光耦合器、分光器、隔离器、光开关、环形器、衰减器等等。


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方案描述

光无源器件种类多样,主要测试规格参数比较集中(IL,RL等),如下框图所示:


插入损耗(IL)测试

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回波损耗(RL)测试

免缠绕式插回损测试仪采用高稳定度光源和高精度光功率计,实现免缠绕的回损测试和高速的插入损耗测试。单次单波长损耗检测时间小于0.5s,最低能够实现-75dB的回波损耗探测。RLM包含单模与多模共6个测试波长(多模:850nm、1300nm、单模:1310nm、1490nm、1550nm、1625nm),快速而准确的测量功能,是提高生产效率和品质管控的有效工具。

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                                                                                                        单芯插回损仪


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                                                                                           多芯插回损仪


PDL测试(可选)

偏振相关损耗PDL --光源、偏振控制器、OPM(必须对偏振不敏感,使用积分球)

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其它参数指标:隔离度(Isolation),一致性(Uniformity),方向性(Directivity)等测量方法类似。

方案优势

在生产制造测试领域,测试仪表要求测量速度快,精度高,稳定性好,扩展方便等特点。模块+平台化的测量解决方案在仪表拓展性,数据报告保存,可编程性等方面具有很大优势。

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