无源器件可靠性自动测试解决方案

基本概述

光无源器件主要种类:光纤、光连接器、光滤波器、CWDM/DWDM、光耦合器、分光器、隔离器、光开关、环形器、衰减器等等。


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方案描述

光无源器件种类多样,可靠性测试主要技术指标有温度相关损耗TDL跟温度波长漂移TWD:


测试项目

测试相关仪表

选择项

备注

温度相关损耗

TDL(dB/℃)

高低温箱+

插回损仪;光源+光功率计;光源+OSA

用户可自定义

高低温可靠性测试

温度波长漂移

TWD(nm/℃)

高低温箱+光源+OSA

用户可自定义

高低温可靠性测试


基本测试线框图(举例示意):


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可靠性测试 示例说明

相关测试标准文件:-- EIA/TIA-455-3A/GR-1221/ GR-1209/ IEC 68-2-38


温度循环测试(Temperature Cycling Test)

温度: -40°C to 70°C (±2°C) for CO -- 温度设置根据具体器件类型可调整

-40°C to 85°C (±2°C) for RT/UNC -- 温度设置根据具体器件类型可调整

极端条件保持时间: ≥15 minutes – 保持时间根据具体器件类型可调整

循环次数: 100 pass/fail, 500 for information for CO;500 pass/fail, 1000 for information for RT/UNC


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循环抗湿性测试(Cyclic Moisture Resistance Test)

温度曲线: 参考如下温度曲线 -- 温度设置根据具体器件类型可调整

相对湿度: 85-95% at 75°C; uncontrolled at 25°C & -40°C

极端条件保持时间: 3 to 16 Hours – 保持时间根据具体器件类型可调整

循环次数: 5 complete cycles (each complete cycle has 5 sub-cycles)


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方案优势

使用光源、光功率计、高低温箱,加上若干光开关,通过控制软件,实现自动温度控制、自动切换测试。在生产制造测试领域,模块+平台化的测量解决方案在仪表拓展性,数据报告保存,可编程性等方面具有很大优势。


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