FAU光纤阵列测试解决方案

面向光纤阵列单元(FAU)的光纤测试解决方案——围绕 FA 端与连接器端,从几何尺寸、端面质量、光学性能到生产集成,提供可按需选配的测试项目与设备组合,覆盖硅光/CPO/高速光模块等应用场景。

方案介绍
方案优势
相关产品

纤芯位置与间距检测

GET Pitch纤芯距智能测试仪

GET Pitch用于FA光纤阵列的纤芯间距及几何尺寸测量,支持自动对焦、测量结果判定与数据保存。通过匹配器件夹具,为阵列加工、装配与耦合前的尺寸检验提供依据。

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端面检测

SmartCheck FV全视场端面检测仪

SmartCheck FV支持FA器件端面检测。大视场观察整体端面特征与阵列一致性,小视场检测细小划痕和缺陷;通过自动曝光、自动对焦和自动判定,检查端面质量。检测发现污染时,可配合清洁并复检。

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光斑分析

BeamHere光斑分析仪及配套系统

结合配套光源与测试配置,分析FA输出光斑的尺寸、椭圆率及多芯光斑一致性,并测量出光偏移,辅助评估输出光束质量及耦合、装配偏差。

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插损与回损测试

FA MAX 3极性插回损测试仪

FA MAX 3面向FAU器件开展插损与回损测试,并支持视觉极性识别及跨行接错判断。采用分立PD收光,适配多分支FAU;电机按预设位置到位,配合器件装夹与初始调校完成半自动测试。具体测试配置按被测件选定。

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偏振消光比测试

PER偏振消光比测试仪

面向保偏FAU器件的检测需求,测量偏振消光比,评估器件的偏振保持能力及偏振耦合特性,为生产检验与性能验证提供依据。

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