CPO交换机光学测试方案
构建覆盖核心光学指标的完整CPO交换机光学测试解决方案
方案介绍
随着高速算力网络与AI大模型业务持续演进,CPO 交换机凭借光电共封装带来的超高带宽密度、低功耗优势,成为下一代数据中心互联的核心设备。为验证共封装光引擎的光学性能、保障整机信号传输质量,需要一套标准化光学测试方案与精密测试仪表支撑。本文面向CPO交换机,构建覆盖核心光学指标的完整光学测试解决方案。

CPO交换机光学测试系统总览
IL测试

测试方法
TLS/PM 偏振光源经 Coupler 分光,一路输入OPM监测基准功率,主光路依次经过Input OSW、CPO、Output OSW 后由 OPM 采集输出功率,计算得到各通道插入损耗。
RL测试

测试方法
集成 OTDR 的插回损系统通过多路光开关轮询接入 CPO 各个光端口,校准链路后依靠 OTDR 反射信号计算端口回波损耗。
TX Power测试
方案1: 
测试方法
CPO 发射光接入带内置功率监控的 OSW,从OSW输出端直接输入,无需切换通道,在 OSW 内部直接读取各通道发射光功率。
方案2:

测试方法
CPO 发射端口直接连接阵列光功率计,同步采集所有通道发射光功率。
方案优势
插入损耗(IL)测试
实时采集光源输出功率,补偿光源漂移带来的测量偏差,适配高密度多通道自动化轮询测试。
回波损耗(RL)测试
单台仪表配合光开关完成全端口自动化扫描,支持反射异常点位定位,便于快速开展故障排查。
发射光功率(TX Power)测试
方案 1:利用OSW输出端同时读取CPO TX 端输出功率,可与回波损耗测试共用测试链路,减少跳线插拔次数;针对 CPO 高密度多通道场景,有效降低接线工作量,提升整体测试效率。
方案 2:采用独立计量级光功率采集设备,量值溯源可靠、测试精度优异,多用于研发验证与结果比对测试。
产品介绍
TLS 可调谐光源依靠谐振腔调谐机制,实现输出激光波长在目标波段内连续精准可调,具备窄线宽与高边模抑制特性。

可调谐光源
窄线宽保偏光源(PM SLS)是具备超窄光谱线宽、稳定偏振特性的光源,输出光偏振态保持稳定,输出功率高,常用于硅光、CPO 等偏振敏感器件的插入损耗、偏振相关光学参数测试,保障测试偏振一致性。

窄线宽保偏光源
OPM光功率计系列模块包含多个系列类型,通过基于平台的测试解决方案可以提供快速、精准、灵活的功率测量。

光功率计
OSW光开关,可集成多种功能模块于一体,可以快速实现对光器件产品的一站式测试,可以适配所有的光路切换要求,并且针对需要进光监控的客户增加了功率监控方案,便于测试系统的搭建。

矩阵式/模块式光开关
Dimension单芯插回损测试仪采用高稳定度光源和高精度光功率计,实现免缠绕的回损测试和高速的插入损耗测试。单次单波长损耗检测时间小于0.6s,最低能够实现-80dB的回波损耗探测。插回损包含单模与多模共6个测试波长(多模:850nm、1300nm、单模:1310nm、1490nm、1550nm、1625nm),插回损快速而准确的测量功能,是提高生产效率和品质管控的有效工具。

免缠绕插回损仪
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