· 高速光模块研发与性能验证

· 光发射器件调试与性能评估

· 数据中心光互连信号质量分析

· 光模块生产测试与质量筛选

· 温度及老化试验中的光信号质量评估

· 高速光通信技术研究与实验教学

发射端调试不仅需要观察信号的当前表现，也需要理解参数变化如何影响信号质量。产品支持发射机损伤仿真，通过设置仿真参数构建不同损伤条件，观察信号波形与眼图随参数变化的表现，将抽象的损伤影响转化为可观察、可对比的仿真结果。

在研发分析中，工程师可先建立参考条件，再调整选定的仿真参数，对比不同设置下的信号特征。通过有计划地改变参数、观察结果，辅助研究损伤因素与信号变化之间的关系，为调试方向判断、问题分析及测试方案验证提供参考。仿真分析与实测观察相结合，有助于形成更有针对性的验证思路。

模拟信号测量图

最高1MSa/s采样速率

眼图由不断积累的采样点构成，采集效率直接影响获取所需样本数量的等待时间。产品提供250kSa/s至1MSa/s采样速率，在适用采集条件下，可更快积累用于眼图观察与参数分析的数据。对于需要反复调整设置、观察结果的研发任务，更高的采样速率有助于缩短采集环节的等待，让工程师更快进入下一轮比较与验证。

以采集100万个有效样本为例，若持续有效采样速率分别为250 kSa/s与1 MSa/s，理论采集时间分别为4秒与1秒。相同样本数量下，采集等待可减少75%。这一优势适用于关注样本积累效率的测试环节；实际完成一次测量的时间，还取决于触发与锁定、数据传输、参数计算及所用测试配置。