

POA可编程光衰减器
多模环通量严格标定,超高的衰减准确性和重复性!
· 多模环通量控制,多种光源检验标定
· 更低插入损耗,衰减速率提升200%
· 内置功率监控闭环监测,三种控制模式
· 支持自定义任务设置和编程
· OMEGA系列模块式可集成多种功能模块于一体,可快速实现对光器件等产品的一站式测试
· XHASIS系列机架式光衰减器密度高,体积小,易部署,成本低
产品详情
产品概述
在5G网络加速部署、数据中心光互联需求激增的背景下,维度科技的可编程光衰减器具有OMEGA系列模块式与XHASIS系列机架式两大形态,兼具低插入损耗,高衰减速率,高密度,低成本,可定制,易部署等显著优势。其应用场景已从传统的实验室测试延伸至光网络自动化运维、光纤传感及激光设备控制等多元领域。随着光通信技术向高速率、大容量方向演进,可编程光衰减器正通过集成MEMS技术、DSP算法等创新设计,推动光网络向智能化、自适应方向跨越发展。
主要特性
· 多模环通量控制,多种光源检验标定
· 更低插入损耗,衰减速率提升200%
· 内置功率监控闭环监测,三种控制模式
· 支持自定义任务设置和编程
· OMEGA系列模块式可集成多种功能模块于一体,可快速实现对光器件等产品的一站式测试
· XHASIS系列机架式光衰减器密度高,体积小,易部署,成本低
主要应用
800G光模块测试
光路损耗模拟
光器件BER测试
EDFA制造及检验
光探测器线性度测试
可调谐光源功率检验
主要分类
OMEGA系列模块式
· 机械式光衰减器
· MEMS光衰减器
XHASIS系列机架式
· 机械式光衰减器
· MEMS光衰减器
OMEGA系列模块式 vs XHASIS系列机架式
严格控制多模EF(环通量),适配不同种类光源注入
由于不同的多模激光器在光纤内部传输时环通量不同,这导致在不计算EF时衰减器的标定数据会有较大的误差。维度科技的多模衰减器通过模式控制器和严格的环通量检测设备,将EF严格控制在IEC-61280-1-4和TIA-455-203的标准,保证不同光源的注入下测试准确性均良好。
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优化后检验结果:全量程衰减线性度±0.10dB
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超低插入损耗和超快的衰减速度
新一代可编程光衰减器通过光路结构优化,实现了插入损耗的进一步下降(SM<1.0dB,MM<1.5dB)。同时,优化后的设计结构可以满足更高的衰减速率需求,机械式衰减器速率从25dB/s升级到50dB/s,全量程衰减1.2s;MEMS衰减器从1000dB/s提升至2000dB/s。
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内置功率监控半开环监测,三种模式控制衰减
为了准确衡量衰减后的功率值,POA在衰减光路后增加了可以选配的光功率计组件,半开环监测光路衰减。加入功率计后在功率监控模式下实时反馈调节,衰减精度达到±0.10dB。
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全新一代衰减器根据不同的应用场景设计了三种控制模式,以应对不同的需求:
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功率观测模式(Power Monitor Mode) | 功率反馈模式(Power Feedback Mode) | 衰减模式(Attenuation Mode) |
实时显示此时衰减器的出光功率, 便于用户检测光信号在瞬间变化时的功率强度 | 根据预设的期望功率值设置衰减 ,并根据内置的功率计读数反馈调节, 保证输出功率精确 | 直接调节衰减值 |
支持支持自定义任务设置和编程
· 多种通信方式:OMEGAv1.0模块式和XHASIS机架式光衰减器提供TCP/IP或USB连接方式,
OMEGAv2.0模块式则经过进一步优化,支持LXI通信。
· 可视化测试:配备可视化软件,方便用户便捷使用,支持用户自定义任务,快速搭建测试平台。
· 自动化测试:提供API接口、封装LabVIEW语句的控制指令,方便用户快速嵌入测试系统。
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性能参数
产品类型 | Mechanical | MEMS |
产品型号 | POA2XXXA/C-FP | POA3XXXC-FA |
光纤类型 | MM 50/125 or 62.5/125μm | SM 9/125μm |
波长范围 | 850/1300nm | 1260~1650nm |
衰减范围 | >55dB | >40 dB |
IL(Typ.)[2] | <1.5 dB-不带功率监测 <2.0 dB-带功率监测 | <1.0dB-带功率监测 |
RL(Typ.)[2] | >30dB | >55dB |
衰减准确度 | ±0.10dB | ±0.25dB |
衰减分辨率 | 0.01dB | 0.01dB |
衰减重复性 | ±0.05dB | ±0.15dB |
衰减速度 | 50dB/S | 2000 dB/s |
最大输入功率 | +27dBm | +27dBm |
闭环功率范围 | +20~-47dBm | +20~-47dBm |
功率监测线性度 | ±0.15dB | ±0.15dB |
功率设置重复性 | ±0.03 dB | ±0.03 dB |
功率设置分辨率 | 0.01 dB | 0.01 dB |
预热时间 | 20分钟(存储与使用温度一致)60分钟(存储与使用温度不一致) | |
建议校准周期 | 2年 | |
工作温度 | 10℃~40℃ | |
存储温度 | -40℃~70℃ | |
尺寸 | 平台:359mmX274mmX115mm;模块:285mmX133mmX71mm |
备注:
[1]测试波长,单模为1310 nm/1550 nm,多模为850 nm/1300 nm。
[2]插入损耗与回波损耗测量值包括连接器。
[3]以上指标均在23±3℃条件下进行测试。
[4]SM MEMS 仅提供带功率监控版本。
订购信息
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