光有源器件研发与制造 实现高效、准确的测试,满足光通信领域的不断发展和创新!

方案优势

光有源器件测试的挑战与痛点

1. 测试精度的需求:随着器件技术的发展,高精度的测试需求日益凸显,要求测试设备能够捕捉到微小的误差,确保产品的高质量输出。
2. 多协议、多速率的测试:不同的应用和场景需要支持的协议和速率都有所不同,这要求测试解决方案具备强大的适应性。
3. 高速数据传输的测试复杂性:随着数据传输速度的提高,例如400G与800G,测试流程和技术要求都变得更为复杂,需要高效、高性能的测试仪器。
4. 设备间的兼容性与整合:在一个完整的测试环境中,不同的设备之间必须能够无缝对接,这需要高度的整合与兼容性。

结合上述挑战,以下是我们的方案优势

1. 超高精度测试:我们的误码仪、CDR等设备均是行业领先,确保高精度的测试结果,满足严格的产品质量要求。
2. 多协议、多速率支持:我们的测试解决方案经过深度定制与优化,能够满足多种协议和速率的测试需求,为您提供最大的灵活性。
3. 针对高速传输的专业测试:利用先进的测试技术,我们为您提供专业的400G和800G等高速数据传输的测试方案,从而确保数据的完整性和稳定性。
4. 完美的设备整合:我们提供的所有设备,如衰减器、光开关、功率计等,都经过严格的整合与优化,保证在测试中的无缝协同,大大降低了兼容性问题。
5. 持续的技术创新与服务支持:我们团队始终关注行业的最新发展,不断研究和创新,为您提供持续的技术支持和优化建议。


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