插回损测试 插回损测试
插回损测试
精确诊断,优化您的光纤连接质量

插回损测试是光纤通信领域中的一个重要测试项目,主要用于评估光纤连接器、适配器、光纤跳线等设备在连接时产生的光损。随着光纤通信技术的发展和广泛应用,对光纤连接的质量要求越来越高,插回损的测试显然必不可少。维度科技全新系列插回损仪,采用OTDR原理(光时域反射)免去传统插回损测试中繁琐的光纤尾端缠绕,结合专业的软件算法高精度地检验光器件的插回损。

线上体验

为您提供全系列的高性能插回损方案!

适应全场景下的光无源器件插回损检测;

测试速度快、测量范围广、测试精度高;

满足单芯、双联、多芯光纤和单、多模测试需求;

基于FreeDesign平台的模块化设计,是目前业界系列最全的插回损测试解决方案,

并持续迭代新的衍生产品如可靠性测试插回损测试系统、多芯极性插回损测试仪等。


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如何革新您的测试效率?

多年来维度科技的工程师专注于迭代方案,多个工位合一的可能性,通过软件、设备的升级和巧妙设计思考成功推出了革新性的产品。如将MPO的插回损和极性合一的多通道极性插回损仪,提升多芯检测在这一工位上600%的效率;JumperRun端检-干涉-插回损三位一体检测仪将单芯检测的工艺化繁为简,为优化测试流程给出了维度的答案。

维度科技将持续在创新上走在最前沿,快速响应800G光通信激增需求下的机遇。


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