FA/JUMPER器件随着光模块的发展也迎来了新的市场需求;与传统连接器不同,FA/JUMPER器件尾端的晶体端面不能直接进行物理对接,并且器件的长度也普遍较短,因此在插入损耗、回波损耗测试上存在漏光、回损测试不准等问题,同时也不能用常规的极性检测仪测试光纤极性。为此维度科技在多芯极性插回损仪的基础上升级选代,为客户提供一站式的FA/JUMPER测试解决方案,兼顾不同分支数、不同角度的FA器件测试,快速测试儿、RL、极性,提高生产检验的效率。

传统插回损仪在测试FA器件时往往存在接口不适配,对接不紧密导致漏光或偏离角度造成插损测试数值不准确的问题。维度科技提供夹具+接口的设计方式,便于用户快速操作,能够夹持稳定,并且不划伤端面,减少误差。

为了适配一些较宽的FA器件或是多分支端口同时接入测试的情况，插回损仪积分球的接口进行了适配升级，入光口径>10mm并在接口边缘进行了防漏光设计。
在MT-FA测试需求下，维度科技提供多维度调节的光机平台帮助用户实现多端同时测试。该光机组件预留足够的调节维度数，若需要更换被测件时，只需手动调校到新被测件合适的位置和角度即可。

FA/JUMPER器件由于无法直接对接极性测试仪的MPO接口，导致TOSA/ROSA阵列的极性测试方法失效。维度科技首发专利提出的视觉检测极性方案能够有效解决这一痛点，并且内置于插回损仪内部，用户只需要一步操作接入被测件，就可以检测FA/JUMPER器件的IL、RL、极性。

该测试方案能够实现自动测试IL、RL、极性，用户如测试大芯数光纤阵列器件（如2000+芯数以上），也可以通过大容量积分收光实现测试。对于多分支FA器件，软件可智能整理极性顺序，并统一生成报告。

免缠绕式回损仪由于其OTDR(光时域反射)原理在测试超短连接器时如不做特殊处理则存在盲区。而缠绕式回损仪在采用OCWR时如不用匹配膏清除未端FA反射光强,同样也无法测试MT-FA器件的Rx端MT的回损。维度科技针对FA的特定使用场景优化了OTDR的查找算法,使Rx端的MT回损能被检测。 

基于维度科技的多芯极性插回损仪优化后的算法测试，在接入匹配膏后，MT端回损测试结果如下，测试结果稳定，数值准确。