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FA/JUMPER新型连接器测试解决方案

维度科技在多芯极性插回损仪的基础上升级迭代,为客户提供一站式的FA/JUMPER测试解决方案,兼顾不同分支数、不同角度的FA器件测试,快速测试IL、RL、极性,提高生产检验的效率。

方案介绍
方案优势
相关产品

FA-JUMPER新型连接器测试方案.jpg

方案概述

FA/JUMPER器件随着光模块的发展也迎来了新的市场需求;与传统连接器不同,FA/JUMPER器件尾端的晶体端面不能直接进行物理对接,

并且器件的长度也普遍较短,因此在插入损耗、回波损耗测试上存在漏光、回损测试不准等问题,同时也不能用常规的极性检测仪测试光纤极性。

为此维度科技在多芯极性插回损仪的基础上升级迭代,为客户提供一站式的FA/JUMPER测试解决方案,兼顾不同分支数、不同角度的FA器件测试,

快速测试IL、RL、极性,提高生产检验的效率。


主要优势

· 支持单模、多模FA器件测试

· 波长可定制,如1270,1490,1625nm等

· 一站式测试IL、RL、极性,无需两端对接

· FA特定回损模式,锁定测距更准确

· 专利设计视觉检测极性

· 丰富的FA夹具、接口,轻松替换

· 探测接口可外置,适配多分支FA或Z-BLOCK器件

· 可在已有极性插回损仪升级,低成本迭代

· 可定制阿基米德积分球,测试2000+芯数FA


主要应用

· MT-FA器件

· JUMPER

· Z-BLOCK连接器

· 光模块内部微型连接



方案特点

· 功能丰富可自定义的软件,支持数据库

· 可测试Tx端IL、ISO隔离度,Rx端IL、RL

· 全平台架构,可集成维度端检、干涉仪检测



丰富的接口设计,稳定夹持,多维光机件精密微调

传统插回损仪在测试FA器件时往往存在接口不适配,对接不紧密导致漏光或偏离角度造成插损测试数值不准确的问题。

维度科技提供夹具+接口的设计方式,便于用户快速操作,能够夹持稳定,并且不划伤端面,减少误差。

丰富稳定.jpg

为了适配一些较宽的FA器件或是多分支端口同时接入测试的情况,插回损仪积分球的接口进行了适配升级,入光口径>10mm并在接口边缘进行了防漏光设计。

在MT-FA测试需求下,维度科技提供多维度调节的光机平台帮助用户实现多端同时测试。该光机组件预留足够的调节维度数,若需要更换被测件时,

只需手动调校到新被测件合适的位置和角度即可。



一步检测插入损耗、回波损耗、极性,解决FA极性痛点

FA/JUMPER器件由于无法直接对接极性测试仪的MPO接口,导致TOSA/ROSA阵列的极性测试方法失效。维度科技首发专利提出的视觉检测极性方案能够有效解决这一痛点,并且内置于插回损仪内部,用户只需要一步操作接入被测件,就可以检测FA/JUMPER器件的IL、RL、极性。

一键测试.jpg

该测试方案能够实现自动测试IL、RL、极性,用户如测试大芯数光纤阵列器件(如2000+芯数以上),也可以通过大容量积分收光实现测试。

对于多分支FA器件,软件可智能整理极性顺序,并统一生成报告。


针对FA/JUMPER连接器回损优化测试

免缠绕式回损仪由于其OTDR(光时域反射)原理在测试超短连接器时如不做特殊处理则存在盲区。而缠绕式回损仪在采用OCWR时如不用匹配膏清除末端FA反射光强,同样也无法测试MT-FA器件的Rx端MT的回损。维度科技针对FA的特定使用场景优化了OTDR的查找算法,使Rx端的MT回损能被检测。 

回损优化测试.jpg

基于维度科技的多芯极性插回损仪优化后的算法测试,在接入匹配膏后,MT端回损测试结果如下,测试结果稳定,数值准确。

同一器件MT-FA重复测试10次,插回损均值、方差结果如下:

测试数据稳定.jpg


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