光无源器件主要种类：光纤、光连接器、光滤波器、CWDM/DWDM、光耦合器、分光器、隔离器、光开关、环形器、衰减器等等。
光无源器件种类多样，可靠性测试主要技术指标有温度相关损耗TDL跟温度波长漂移TWD：
| 测试项目 | 测试相关仪表 | 选择项 | 备注 |
温度相关损耗 TDL(dB/℃) | 高低温箱+ 插回损仪；光源+光功率计；光源+OSA | 用户可自定义 | 高低温可靠性测试 |
温度波长漂移 TWD(nm/℃) | 高低温箱+光源+OSA | 用户可自定义 | 高低温可靠性测试 |
基本测试线框图（举例示意）：
可靠性测试 示例说明
相关测试标准文件：-- EIA/TIA-455-3A/GR-1221/ GR-1209/ IEC 68-2-38
温度循环测试（Temperature Cycling Test）
温度: -40°C to 70°C (±2°C) for CO -- 温度设置根据具体器件类型可调整
-40°C to 85°C (±2°C) for RT/UNC -- 温度设置根据具体器件类型可调整
极端条件保持时间: ≥15 minutes – 保持时间根据具体器件类型可调整
循环次数: 100 pass/fail, 500 for information for CO；500 pass/fail, 1000 for information for RT/UNC
循环抗湿性测试（Cyclic Moisture Resistance Test）
温度曲线: 参考如下温度曲线 -- 温度设置根据具体器件类型可调整
相对湿度: 85-95% at 75°C; uncontrolled at 25°C & -40°C
极端条件保持时间: 3 to 16 Hours – 保持时间根据具体器件类型可调整
循环次数: 5 complete cycles (each complete cycle has 5 sub-cycles)
使用光源、光功率计、高低温箱，加上若干光开关，通过控制软件，实现自动温度控制、自动切换测试。在生产制造测试领域，模块+平台化的测量解决方案在仪表拓展性，数据报告保存，可编程性等方面具有很大优势。
在线咨询
电话联系