MEMS 光开关
可实现多个光学测试对象或多种光学性能的自动化测试
可编程，支持时间、按键和程序控制多种方式切换
低插入损耗，低偏振相关损耗，通道一致性好
高可重复性，使用寿命超过1000万次
切换时间短，低于30ms
平台+模块化设计
支持远程控制等多种控制方式
产品详情
产品概述
光开关在任何自动化光学测试系统中有着不可替代的重要作用，是其中的核心器件，可以实现多个光学测试对象或者多种光学性能的自动化测试，避免因多次插拔光连接器而造成各种测量不确定性。
Dimension为光学自动化测试系统提供了系列高性能OSW光开关模块，这些模块非常适用于实验室或高严格的制造生产环境，配合Dimension的通用光学测试平台，OSW光开关可以在程序控制下自动路由光信号，支持对多通道和多个光学器件进行并行测量，显著减少测试时间，从而提升测试仪器的使用效率，降低整体测试成本。
主要特性
可编程，支持时间、按键和程序控制多种方式切换
低插入损耗，低偏振相关损耗，通道一致性好
高可重复性，使用寿命超过1000万次
切换时间短，低于30ms
平台+模块化设计
支持远程控制等多种控制方式
主要应用
光路切换
光环路保护和切换
光纤网络远程监控
光器件测试与研究
可编程，支持多种触发方式
OSW光开关通过编程功能可以灵活设置光路切换触发方式，可以通过外部 TRIG信号，等待设定时间或者触摸屏、实体按键等多种方式触发光开关切换，为后续自动化程序开发灵活提供各种接口。
高可重复性
OSW光开关的切换次数可以达到1000万次，MEMS光开关可以达到10亿次。插入损耗随机切换100次的重复性小于0.02dB，为用户提供高度可靠的光路【1】。
低插入损耗，低偏振相关性
通道一致性好各通路插入损耗小于1.0dB，偏振相关损耗小于0.05dB【2】。
平台+模块化设计，支持多种控制方式
Dimension的通用测试平台，可以兼容包含OSW光开关在内的多种功能测试模块，具有可热插拔、可编程、可扩展性强、易于维护和管理、综合成本低等显著优势。支持网络、USB、触摸屏和实体按键等多种控制方式。
性能参数
| 参数 | 机械式光开关 | MEMS光开关 | |
| 波长范围 | 1260nm～1650nm | 1250nm～1670nm | |
| 测试波长 | 1310nm/ | 1550nm | |
| [2] 插入损耗 | Max:1.2dB | Max:1.3dB | |
| 回波损耗 | >50dB(SM/APC);>30dB(MM/PC >50dB(SM/APC);>30dB(MM/PC | ||
| 通道串扰 | SM>70dB,MM>55dB SM>50dB,MM>30dB | ||
| 重复度 | <±0.02dB | <±0.02dB | |
| 切换次数 | ≥107次 | ≥109次 | |
| 切换时间 | 10ms*(n-m)+5ms 10ms*(n-m)+30ms | from port m to n,n>m from port n to m,n>m | min 5ms max 10ms |
| 输入电压 | AC90～260V/50HZ | ||
| 工作温度 | 10℃~40℃ | ||
| 存储温度 | -40℃~70℃ | ||
| 尺寸 [3] | 机箱：359mm×274mm×115mm单插槽模块：285mmX133mmX35mm双插槽模块：285mmX133mmX71mm | ||
备注：
[1］机械式光开关切换寿命大于1000万次 ，MEMS切换寿命大于10亿次。
[2］不包括连接器引入的插入损耗，插入损耗和光开关端口数有关，机械式光开关的插入损耗见下表。机械式偏振相关损耗小于0.05dB，MEMS小于0.1dB。
[3］根据光开关端口数模块有单插槽、双插槽和多插槽，其中多插槽的宽度尺寸是单插槽宽度的叠加。
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